1. 比特28

    CP200
    芯粒测试分选一体机
    集芯粒电测分选于一体,支持根据电测结果自动分Bin
    支持多种芯粒输入和分选输出方式,包括蓝膜,Tray盘,华夫盒等
    标配探针力传感器,支持主动式针压调整
    标配4工位高速直驱旋转转盘,支持芯粒拾取,探针电测,芯粒分Bin同步运行
    标配独立双头芯粒取放吸嘴,支持吸嘴自动测高,取放软着陆&缓抬,自动失晶检测
    标配6套光学镜头,支持芯粒高精度取放和监控
    模块化设计,支持客制化芯粒测试分选方案
    中英双语人机界面,操作简单便捷
    应用领域

    适用于单层电容芯片测试分选工艺

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