• 比特28

    PT-320
    综合型高精度半自动探针台，满足多样化的测试需求
    全新一代高精度定位平台
    开放式面板设计，搭配不同组件，实现更加丰富的测试功能
    自动对针，更适用于集成电路多芯同测和倒扣扎针的测试需求
    常高温、高温、恒温等CHUCK可选
    抽测功能，可实现晶圆片上不等距步进，任意点测试
    具有多Bin分类显示Mapping功能，任意分析晶圆参数分布情况
    高精密光学模组，结合最新图像软件算法，实现探针自动精确定位，安全可靠自动测试
    CHUCK模块化设计，选配、更换更加便捷

    应用领域

    适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件、光电器件等晶圆级半自动测试。

    测试应用
    WAT测试
    高低温测试
    射频测试
    高压测试
    大电流测试
    低漏电测试
    低阻测试
    主要功能
    针痕检测功能
    自动清针功能
    MAP图实时显示、存储产品
    自动对针功能
    自动晶圆对准功能
    晶圆厚度自动检测功能
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